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AEMIC愛米克 AE-172E晶圓、軸向行電阻涂裝設(shè)備電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：AE-172E
產(chǎn)品品牌：
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
AEMIC愛米克 AE-172E晶圓、軸向行電阻涂裝設(shè)備電阻測(cè)試儀
AEMIC愛米克 AE-172E晶圓、軸向行電阻涂裝設(shè)備電阻測(cè)試儀
日本AEMIC愛米克 高速?高精度?數(shù)字電阻測(cè)試儀AE-162L日本AEMIC愛米克 數(shù)字電阻測(cè)試儀AE-163D探測(cè)頭自動(dòng)清潔日本AEMIC愛米克 AE-172E晶圓、軸向行電阻涂裝設(shè)備電阻測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)超高精度?高速
實(shí)現(xiàn)超高精度?高速從低電阻到高電阻的廣泛量程的測(cè)量！
適合B,C,D,F,G,J,級(jí)、貼片、MELF、輻向式和軸向式電阻的分選機(jī)?包裝機(jī)
超高度：分辨率10ppm、基本精度±0.005%
消除熱電動(dòng)勢(shì)影響，實(shí)現(xiàn)高精度和高穩(wěn)定性的檢測(cè)
通過隔離模擬電路和數(shù)字電路，提高耐噪音能力和實(shí)現(xiàn)高穩(wěn)定性
通過設(shè)定每一量程的測(cè)定值積分時(shí)間，實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性檢測(cè)
值測(cè)量：：0.000mΩ～125.00MΩ
％測(cè)定： ±9.999%(HI-RESO)/-99.99%～+25.00%（LO-RESO）
接觸檢測(cè)：可選擇測(cè)定前/測(cè)定后/OFF
（新機(jī)能）測(cè)定中也能時(shí)常監(jiān)視探側(cè)頭的接觸狀態(tài) 提供更可信賴的數(shù)據(jù)
RS-232接口標(biāo)準(zhǔn)配備（可選購GP-IB）
打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)配備（適合Centronics）
設(shè)定値轉(zhuǎn)送功能標(biāo)準(zhǔn)配備：
（可將相同設(shè)定數(shù)據(jù)傳輸至其他AE-1652Ｅ機(jī)進(jìn)行自動(dòng)設(shè)定）
標(biāo)準(zhǔn)配備檢查電流/電壓異常的電路
搭載自動(dòng)清潔探測(cè)頭的電路配備
